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XPS测定减水剂吸附层厚度
材料化学工程与纳米技术 | 更新时间:2025-12-10
    • XPS测定减水剂吸附层厚度

    • Measurement of adsorption layer thickness of water reducer by using XPS

    • 化工学报   2008年第1期 页码:256-259
    • 网络首发:2008-01-05,

      纸质出版:2008-01-05

    移动端阅览

  • 郑大锋, 邱学青, 楼宏铭. XPS测定减水剂吸附层厚度[J]. 化工学报, 2008,(1):256-259. DOI:

    ZHENG Dafeng, QIU Xueqing, LOU Hongming. Measurement of adsorption layer thickness of water reducer by using XPS[J]. CIESC Journal, 2008, (1): 256-259. DOI:

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